CMOS檢測(cè)器的直讀光譜儀的問世，你了解CMOS檢測(cè)器在哪些方面更具優(yōu)勢(shì)嗎？今天小編將淺談 CMOS檢測(cè)器比CCD的直讀光譜儀具有的優(yōu)勢(shì)，CMOS檢測(cè)器特殊定制的科研級(jí)CMOS感光元件，可獲得更高分辨率。 12-15片CMOS排布，分析精度更高。

采用OEO （OptimalElement-Oriented）技術(shù)，可對(duì)任意像素位置信號(hào)單獨(dú)提取，實(shí)現(xiàn)每個(gè)元素獨(dú)立參數(shù)優(yōu)化與采集分析。

CMOS傳感器紫外靈敏度更高，實(shí)現(xiàn)非金屬元素（N、C、S、P）更精準(zhǔn)的分析。CMOS具備防光暈技術(shù)，提高光學(xué)系統(tǒng)分辨率，提升儀器檢測(cè)限。更強(qiáng)的抗干擾能力，保證數(shù)據(jù)穩(wěn)定性。

不同基體中，同一元素的測(cè)量采用不同的分析譜線，共存元素干擾最小。譜線信息豐富，再結(jié)合先進(jìn)的算法，可以準(zhǔn)確扣除各種共存元素干擾。

同時(shí)擁有PMT的高精度高靈敏性及CCD的全譜分析特性。針對(duì)不同基體的同一元素，對(duì)應(yīng)著一個(gè)最優(yōu)化測(cè)量方案。